本文標題:背景光補償二值化對鐵譜圖像的作用
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2014-12-29 10:14:40
背景光補償二值化對鐵譜圖像的作用
我們都知道鐵譜圖像的處理過程中，對磨粒的背景處理往往可以
通過一階和二階之差分進行結鐵譜圖像的邊緣進行檢測。
而這種鐵譜圖像檢測所得到的邊緣信息是不完整的，因此鐵譜圖
像的分割圖像就變的殘缺不全了。
但是用其他的算子進行對鐵譜圖像進行低頻濾波，則就可以消除
因光源的照明不均勻而引起的北京梯度之間的變化，可在此基礎
止非常二值化，這樣就可以得到完整的鐵譜圖像邊緣信息了。
一般情況這種方法都是用在沒有背景的情況下使用的，如在有北
背景的情況下則是通過采用背景的亮度變化和數字仿真方法進行
人工構造背景的情況下對亮度進行補償，同時結合實際情況使用
。
將本頁加入收藏
下一篇：上海光學一廠光學鐵譜顯微鏡特點磨粒形貌基本數字特征
上一篇：鐵譜分析儀彩色圖像分析的原理簡介
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.sztecrb.cn/xinwen/1314.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
