本文標題:電子顯微鏡的特征線與俄歇電子的產(chǎn)生
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-5-2 11:00:52
電子顯微鏡的特征線與俄歇電子的產(chǎn)生
電子顯微鏡的特征線在樣品原子中的內(nèi)層電子被入射電子電離后，能
發(fā)出包含元素特征的線,它產(chǎn)生于樣品深部區(qū)域。
電子顯微鏡的特征線由于樣品中不同的元素可以發(fā)出不同的特征X線,
據(jù)此可以對樣品進行成分分析。
電子顯微鏡俄電子樣品原子中的內(nèi)層電子被入射電子束激發(fā)電離后留
下了空穴，此時，高能級上的電子必然要向低能級躍遷以填補空穴。
電子顯微鏡電子從高能級向低能級躍遷時勢必釋放出能量，這種多余
的能量可以以輻射的形式釋放，也可以使另一外層電子從樣品表面逸
出,樣品表面有限的幾個原子層，其能量與樣品的表面特性。
電子顯微鏡陰極熒光外層電子受激發(fā)躍遷，而后回復原狀態(tài)時發(fā)出的
電磁輻射，或者某些固體材料原子中的價電子被入射電子激發(fā)所產(chǎn)生
的弛豫發(fā)光叫陰極熒光。利用這種信號可研究發(fā)光半導體材料中的晶
格缺陷等。
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